DUV/VIS/NIR光谱图型椭偏仪SE850DUV
名稱：物性数据分析公测实验仪器
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参数：
简介：简单信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料，测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射率梯度。近红外使用FTIR，测量时间短...
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- 产品介绍
十分简单产品信息： 深太阳光的紫外光线包括应用于探析方案纤薄膜、外表面不光滑度，并可探析方案室内温度、热应力、拉力、参杂、组份、晶态等对材质禁速率度的不良影响；深太阳光的紫外光线也可探析方案AlGaN, AlN等宽禁带材质，量测膜厚0-10nm。探及光可量测折射角率系数。近红外采用FTIR，量测时段短（全光谱仪、多多方面量测可在15分钟的英文内到位）.
商品名称： DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪
商品型号： SE850DUV
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