SE850 UV/VIS/NIR光谱图型椭偏仪
简介：简单信息： SE850UV/VIS/NIR光谱型椭偏仪可测量大尺寸材料、单层与多层膜、界面、超薄膜与厚膜的厚度与光学参数。SE850DUV特别适用于高要求的研发应用，例如测量玻璃上的薄透明膜、有机发光体、多层半导体材料复合膜、窗玻璃上的低e...
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- 产品介绍
简单信息： SE850UV/VIS/NIR光谱型椭偏仪可测量大尺寸材料、单层与多层膜、界面、超薄膜与厚膜的厚度与光学参数。SE850DUV特别适用于高要求的研发应用，例如测量玻璃上的薄透明膜、有机发光体、多层半导体材料复合膜、窗玻璃上的低e镀层、最新微电子应用如SOI、高k和低k材料，也能分析各向异性和非均匀性样品。选件.
光谱范围: 350 nm - 1700 nm
主要应用
·测量单层膜或多层膜的厚度和折射率
·在紫外-可见光-近红外波段测量材料的光学性质
·测量厚度梯度
·测量膜表面和界面间的粗糙程度
·确定材料成分
·分析较厚的膜，厚度范围可到30微米
·适合测量In搀杂的半导体材料 (InP, InGaAs, InGaAlAs, InN)
选项
·紫外光谱扩展选项，280 - 850 nm
·近红外光谱扩展选项，1700 - 2300 nm
·计算机控制高性能消色差补偿器
·计算机控制起偏器
·计算机控制自动角度计, 40º-90º, 精度0.01º
·手动x-y载物台，150 mm行程
·电机驱动x-y载物台，行程50 mm - 200 mm, SENTECH地貌图扫描软件
·透射测量样品夹具
·摄象头选项，用于样品对准和表面检测
·液体膜测量单元
·反射式膜厚仪FTPadvanced, 光斑直径80微米
·微细光斑选项
·自动对焦选项，结合地貌图扫描选项
·SENTECH标准样片
·附加许可，使SpectrRay II软件可以用于多台电脑
光谱椭偏仪软件SpectraRay II
基于windows系统的 SpectraRay II 操作软件包括一个全面的的建模、模拟和拟合软件包，操作向导，自动输出结果，单键操作，使得软件界面友好并且椭偏仪操作简易。
通过运行操作向导，能够使操作变的简单。操作向导能够指导用户完成标准的测量程序：测量数据，拟合，输出结果。操作向导能够将复杂的测量和拟合的设置变的简易。
SpectraRay II 软件也能够进行反射测量和透射测量。
报告向导能够自动完成将测量结果输出到一个web文件。
商品名称： UV/VIS/NIR光谱型椭偏仪
商品型号： SE850
