牛津议器 网络背散射衍射（EBSD）侦测器C-Swift
公司名称：物性概述检测仪测量仪器
品脾：
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简介：牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成...
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- 产品介绍
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。
牛津测试仪器 智能背散射衍射（EBSD）观测器C-Swift也是个好、绕城高速公路EBSD观测器。与Symmetry观测器都一样，C-Swift采用制定的CMOS感知器来保证绕城高速公路和高灵敏性度，以保障或许在最能体现试炼性的涂料上依然得到高产品品质量的报告。 C-Swift主要快速为1000pps，时候可取得高效果量的样式判断率(156x128分辨率）。这差不多于体系结构CCD的监测器以相类似快速行驶时爬取器样式分辨率数的4倍，为了确保全部的型样板的安全校准和高法伤率。无模糊光学薄膜操作系统与AZtec软文中专业的校准汉明距离融入，使C-Swift要供应远远超过0.05°的高多角度精确。就想要更大效果量样式的运用, C-Swift能否以将高达250pps的快速爬取器622x512分辨率的样式，使其变成了冗杂的多相样板和柔性生产的相浅析的志向进行。 这里是专为快、有郊的样品英文定性分析而制作的试探器。系统的每家引擎，从相近传加速度传感器器到待选的融合内置试探器，都进行制作, 主要是更好底限地提供效能和容易用性, 并使EBSD变成了每家实验操作室的标准的工貝。
当车速是重点时，C-Swift试探器提高打了个个新基准：
牛津测试仪器 智能背散射衍射（EBSD）观测器C-Swift也是个好、绕城高速公路EBSD观测器。与Symmetry观测器都一样，C-Swift采用制定的CMOS感知器来保证绕城高速公路和高灵敏性度，以保障或许在最能体现试炼性的涂料上依然得到高产品品质量的报告。 C-Swift主要快速为1000pps，时候可取得高效果量的样式判断率(156x128分辨率）。这差不多于体系结构CCD的监测器以相类似快速行驶时爬取器样式分辨率数的4倍，为了确保全部的型样板的安全校准和高法伤率。无模糊光学薄膜操作系统与AZtec软文中专业的校准汉明距离融入，使C-Swift要供应远远超过0.05°的高多角度精确。就想要更大效果量样式的运用, C-Swift能否以将高达250pps的快速爬取器622x512分辨率的样式，使其变成了冗杂的多相样板和柔性生产的相浅析的志向进行。 这里是专为快、有郊的样品英文定性分析而制作的试探器。系统的每家引擎，从相近传加速度传感器器到待选的融合内置试探器，都进行制作, 主要是更好底限地提供效能和容易用性, 并使EBSD变成了每家实验操作室的标准的工貝。
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift特点
当车速是重点时，C-Swift试探器提高打了个个新基准：
- 仅需要12nA的电子束流，就能保证1000pps的标定速度
- 最高速度下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍
- 全分辨率花样（622x512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择
- 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
- 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现最大的空间分辨率
- 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
- 波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性
- 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
- 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果
- 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
电子背散射衍射（EBSD）是一种基于扫描电子显微镜（SEM)），提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中，电子束与倾斜的晶态样品相互作用，形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到，它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此，衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件，常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域，以帮助材料表征，如下表所示。
AZtec EBSD系统结合了EBSD（ Symmetry ）的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能，为电子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。
| 行业 | 材料 | 典型的EBSD测量 |
| 金属研究和加工 | 金属，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金属间化合物 | 晶界表征 |
| 汽车 | 夹杂物/沉淀物/第二相 | 体织构 |
| 核能 | 陶瓷 | 局部织构 |
| 微电子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科学 | 太阳能电池 | 再结晶或形变率 |
| 科研领域 | 地质 | 亚结构分析 |
| 半导体 | 相鉴定 | |
| 超导体 | 相分数和相分布 | |
| 冰 | 相变 | |
| 金属和陶瓷复合材料 | 断口分析 | |
| 骨头，牙齿 | 晶粒和相间的取向与取向差关系 |
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