牛津检测设备 电商背散射衍射（EBSD）测探器Symmetry S2
公司名称：物性解析考试检测仪器
品牌形象：
机型：
简介：牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统，集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为所有材料和所有测量提供优越的性能...
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- 产品介绍
牛津仪器设备 电子器材背散射衍射（EBSD）发现器Symmetry S2按照有能定制网站的CMOS感知器和电信光纤板光纤激光切割机的平台，集极速、高灵活度和高衍射众多新体验产品品质于立体式的强劲搭档。Symmetry S2与AZtec系统软件相运用，为全部的原料和全部的自动测量提供了领先的性能方面。Symmetry S2的高研究分析一下速率多于4500 pps，可在几几秒钟内变现织构和晶粒度度定性研究分析，而就是不应该高束流或不惜牺牲众多新体验鉴别率的经济条件下变现的。这寓意着，或许对难做打样定制，如多相轻合金类或倾斜钢，也能够变现极速及高产品品质的研究分析一下。
不仅如此，Symmetry S2就能够采集工具无轮廓、小夏图片鉴别率鉴别率的EBSD花式，使用精致细密的应变速率和相分析一下。游戏保持红外探头倾转（手动技术性进行校正）和靠近报警器等多元化模块，使Symmetry S2已成为的一款满足拥有技术应用的发现器。
当不用办理在加速度和定位精度间做选用时，全能系统型Symmetry S2也可以解乏须要满足每个操作须要。
Symmetry S2测探器的性能优异，适用以便于，是各种EBSDAPP的自然测探器：
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2特点
Symmetry S2测探器的性能优异，适用以便于，是各种EBSDAPP的自然测探器：
- 保证标定速度 > 4500点/秒（pps）
- 光纤板光学系统带来优异的灵敏度
- 高灵敏度 > 800 pps/nA
- 最快速度时花样分辨率为156 x 88 像素
- 百万像素全分辨率（1244 x 1024）花样——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD应变分析
- 亚像素畸变，保证角度精度优于0.05°
- 软件控制倾转接口，且自动校准——为所有大小的样品和几何设置提供理想的定位和标定
- 接近报警——提前探测可能发生的碰撞，并自动移动探测器至安全位置
- 五个集成的前散射探测器（FSD，选配）, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
- 波纹管SEM接口，保持显微镜真空的完整性
- 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得优异的结果
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2应用
Symmetry S2集極速、精确度度和便携表于分立式，是一个款能合并所有的应用软件研究方向的超能型EBSD遥测器。这以及：- 标准金属和合金样品的常规分析
- 深入检查应变和变形
- 复杂或束流敏感样品的有效表征
- 优化大样品测量
- 纳米晶材料的透射菊池衍射（TKD）分析
材料性能的快速质量控制
- Symmetry S2的最大分析速度 >4500 pps，可在若干秒钟内测量样品关键性能
- 依据ASTM E2627标准分析双相不锈钢的晶粒度，晶粒数量 >2000个，时间<80秒。
- 同样，织构和相分数的快速表征使得Symmetry S2非常适合于质量控制和高产量应用
- 仅使用中等束流（4 nA）即可对各种材料完成高速分析
敏感样品的高速分析
- Symmetry S2探测器内独特的光纤板光学系统提供了优异的灵敏度，不仅确保来自束流敏感材料的出色数据，而且对所有样品类型都有性能优势
- 对石英（SiO2）矿物样品，仅使用中等束流以1900 pps的速度在12分钟内完成准确相分析
- Symmetry S2的灵敏度确保您可以在所有应用中利用探测器的高速度，短时间内完成大量样品的检测
应变样品的详细分析
- 为了有效地表征应变，具有百万像素分辨率和最小畸变的探测器至关重要
- Symmetry S2是一款能满足这些标准的探测器——全1244 x 1024像素衍射花样是高角度分辨率（HR）EBSD的理想选择，每个探测器都能保证亚像素畸变
- 本例显示了高质量的EBSD花样与AZtec的高精度标定模式如何描述应变镍样品中的位错胞
分析任意大小的样品
- 使用传统EBSD探测器很难分析大样品，因为它们需要在SEM的长工作距离（WD）下进行分析，这会损害标准EBSD几何位置
- Symmetry S2有软件控制倾斜，可为每种样品类型定位于其理想的几何位置，从TEM薄片到厘米尺度样品（如原位测试样品或地质薄片）
- 该面分布图显示了来自大型力学测试的Ti64合金样品的EBSD数据，晶粒取向数据用于计算加载方向的杨氏模量
电子背散射衍射（EBSD）是一种基于扫描电子显微镜（SEM)），提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中，电子束与倾斜的晶态样品相互作用，形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到，它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此，衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件，常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域，以帮助材料表征，如下表所示。
AZtec EBSD系统结合了EBSD（ Symmetry ）的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能，为电子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。
| 行业 | 材料 | 典型的EBSD测量 |
| 金属研究和加工 | 金属，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金属间化合物 | 晶界表征 |
| 汽车 | 夹杂物/沉淀物/第二相 | 体织构 |
| 核能 | 陶瓷 | 局部织构 |
| 微电子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科学 | 太阳能电池 | 再结晶或形变率 |
| 科研领域 | 地质 | 亚结构分析 |
| 半导体 | 相鉴定 | |
| 超导体 | 相分数和相分布 | |
| 冰 | 相变 | |
| 金属和陶瓷复合材料 | 断口分析 | |
| 骨头，牙齿 | 晶粒和相间的取向与取向差关系 |
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