Keithley吉时利 参数化测试系统

S530 参数测试系统 

适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境，提供业界领先的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。Keithley 拥有超过 30 年的专业经验，针对这些测试解决方案的设计向全世界的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。
 

S530 功能

• 能轻松适应新设备和测试要求
• 快速、灵活、交互式测试计划制定
• 兼容于常见的全自动探头测试台
• 提供 1kV、C-V、脉冲生成、频率测量和低压测量选项
• 兼容于 Keithley 的 9139A 型探头卡适配器
• 支持重复使用现有的五英寸探头卡库
• 经验证的仪器技术确保在实验室和工厂中实现高测量精度和可重复性

 

S535 多站点晶片验收测试系统 

不是种大办公电压、最高识别率晶片级满足情况报告，使用跨创作办公流软件測試采用中的养成、电动伸缩、融合讯号和离散设施。与在某个公交站名上此外软件測試几台设施的传统的异步并行处理执行软件測試情况报告与众不同，S535 的多公交站名并行处理执行软件測試技巧在二个公交站名上此外精确测量几台设施。这将观测器数据库索引精力不低于还缩短 2 倍，导致加强创作生产制造率并有效降低软件測試成本低。

S535 特点

• 在多站点并行或连续运行中自动执行所有晶片级直流参数测试。触摸一次探头测试两个或四个站点。
• 多达 64 根测试针：并行测试四个站点，每个站点 16 根针；并行测试两个站点，每个站点 32 根针；连续测试一个站点，64 根针
• 高达 100 W 运行：1 A 时 100 V；100 mA 时 200 V
• 在高速、多针、完全自动的测试环境中 1 fA、10 nV 分辨率
• 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件兼容原有 Keithley 测试系统、支持轻松进行测试开发和快速执行。
• Keithley S530 型探头卡基础设施也支持原有的 S400 应用

 

S540 参数测试系统 

是个全定时化的 48 引脚技术参数检查软件，支持于敢达 3kV 的最大公率半导体行业设备电子元件和构造的晶片级检查。全部集成化式 S540 已对于具有无定形碳硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 在其中的多种包覆最大公率半导体行业设备用料采取系统优化，能在日均检查触屏中强制执行大部分高电流值值、低电流值值和电容器检查。

S540 功能

• 在单次探头触摸中自动在多达 48 个引脚上执行所有晶片级参数测试，包括高电压击穿、电容和低电压测量，而无需更改电缆或探头卡基础设施
• 在最高达 3kV 的条件下执行晶体管电容测量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而无需手动配置测试引脚
• 在高速、多引脚、全自动测试环境中实现低电平测量性能
• 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件支持轻松进行测试开发和快速执行
• 非常适合于过程集成、过程控制监控和生产芯片分类中的全自动或半自动应用
• 通过最大程度减少测试时间、测试设置时间和占地面积，降低拥有成本，同时实现实验室级测量性能

 

S500 集成式测试系统 

是高度可配置的、基于仪器的系统，适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于9九游 经过验证的仪器，提供创新的测量功能和系统灵活性，并且根据您的需求可进行扩展。独有的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件，提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。 
 

S500 功能

• 全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格，包括 subfemtoamp 测量，确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
• 适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV（电荷陷阱分析）和 PIV 扫描（自加热回避）的脉冲生成和超快 I-V。
• 利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器，提供低或高通道数系统，包括并行测试。
• 适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
• 开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。