全反射式网络膜厚预估仪 FTPadv inline NIR
英文名称：涂电镀件测厚仪
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简介：FTPadv inline NIR 反射式在线膜厚测量仪FTP反射式在线膜厚测量仪，每个控制器可支持1-7个光学探头，内部具有参考样品。光谱范围420-2000nm, 可测量TCO薄膜的膜厚和片状电阻 厂商名称： SENTHCH 商品名称：...
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- 产品介绍
FTPadv inline NIR 反射式在线膜厚测量仪FTP反射式在线膜厚测量仪，每个控制器可支持1-7个光学探头，内部具有参考样品。
光谱范围420-2000nm, 可测量TCO薄膜的膜厚和片状电阻
厂商名称： SENTHCH
商品名称： 反射式在线膜厚测量仪
商品型号： FTPadv inline NIR
Sensol –M
大面积样品台 ，反射式测量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收层膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平扫描样品系统用于大玻璃平板
•雾状
•透射光谱T(λ) 和反射光谱R(λ)
•方块电阻：非接触法
•方块电阻：四探针
•膜厚测量探头
SenSol V
垂直扫描系统
•绒面
•透射光谱T(λ) 和R(λ)
•片状电阻Ω：光学法
•片状电阻Ω：4探针
•膜厚测量探头
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
