泛美25DLmri波测厚仪
名稱：涂镀后测厚仪
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简介：美国泛美25DL高精度超声测厚仪可进行精确、可靠及高重复性良好的厚度测量。 多功能测量型，用于接触测量，延迟测量，及浸入传感器测量。 可使用已存贮的，标准的及用户自行设置的探头参数。 内部数据存贮器存有5000个数据。 PC显示通过选通器可...
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- 产品介绍
美国泛美25DL高精度超声测厚仪可进行精确、可靠及高重复性良好的厚度测量。
多功能测量型，用于接触测量，延迟测量，及浸入传感器测量。
可使用已存贮的，标准的及用户自行设置的探头参数。
内部数据存贮器存有5000个数据。
PC显示通过选通器可在计算机屏上显示波形及厚度数据。
配有RS-232双向串行接口
泛美超声检查波测厚仪25DL功能描述
测量范围 钢0.15～500mm分档
塑料0.08～50mm分档
声速范围 508～13998mm/s
测量速度 每秒1、2、5、10次
分辨率 0.1mm/0.01mm/0.001mm任选
显示模式 当前/最大/最小值
探头 可采用接触式探头、延迟探头或水浸探头
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