尼康nikon N-SIM 超识别率电子显微镜
品牌：任何实验仪器与用具
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简介：尼康nikon N-SIM 超分辨率显微镜可获得传统光学显微镜两倍的分辨率。使用独特的光学科技与制造技术，尼康享誉全球的Eclipse Ti研究级显微镜并配备卓越的CFI Apo TIRF 100x oil物镜（N.A. 1.49），以此为...
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尼康nikon N-SIM 超分辨率显微镜可获得传统光学显微镜两倍的分辨率。使用独特的光学科技与制造技术，尼康享誉全球的Eclipse Ti研究级显微镜并配备卓越的CFI Apo TIRF 100x oil物镜（N.A. 1.49），以此为基础又结合了由UCSF（University of California，San Francisco旧金山加州大学）所授权的SIM技术就形成了全新的N-SIM系统。N-SIM在实现超级分辨率的同时还能以0.6秒/帧的时间分辨率实现了业内最高的超分辨率图像获取速度。
尼康nikon N-SIM 超分辨率显微镜结合UCSF授权的“结构化照明显微术（S tructured I llumination M icroscopy）”与尼康声誉卓著的CFI Apo TIRF 100x oil物镜（N.A. 1.49）N-SIM几乎实现了传统光学显微镜两倍的分辨率
尼康nikon N-SIM 超分辨率显微镜提供业内最高的超分辨率图像获取速度，可实现0.6秒/帧2D SIM与1秒/帧3D SIM的时间分辨率，能有效进行活细胞成像。
尼康nikon N-SIM 超分辨率显微镜使用选配的双相机组件*为显微镜链接两台EMCCD相机。可使用488nm与561nm激发光实现同时双波长超分辨率成像。 *Andor Technology Ltd
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