岛津SHIMADZU EPMA-8050G 电子探针显微分析仪搭载最尖端场发射电子光学系统 ,将岛津EPMA分析性能发挥到极致,从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。
岛津SHIMADZU EPMA-8050G 电子探针显微分析仪超高分辨率面分析:对碳膜上Sn球放大3万倍进行面分析。即使是SE图像(左下)上直径只有50nm左右的Sn颗粒,在X射线图像(右下)上也是清晰可见。
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