布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体设备计量检验仪
各称：其他机器设备与生产工具
加盟品牌：
应用：
简介：布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪拥有最新的系统控制。布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪是完全自动化的，是由300毫米XRF技术系统和其Ag模块特性组成,分析组成下撞击金属。由于极其微小的x光光斑大小...
申请服务
- 产品介绍
布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪拥有最新的系统控制。布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪是完全自动化的，是由300毫米µXRF技术系统和其Ag模块特性组成,分析组成下撞击金属。由于极其微小的x光光斑大小,与竞争对手系统不同,个别测量是可行的,甚至10µm直径,在这个例子中,使用小束剖面在单个模块Ag组成。构成可以快速、可靠地获得,满300mm晶圆与快速映射。非盟组成的地图,Pd可以自动生成。
如果您需要布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
最新信息物品
相关设备
