布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体芯片量值溯源仪
公司名称：另一个检测仪器与方式
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简介：布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术，具有最全面的晶体缺陷检查解决方案。布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪用于分析硅晶片和钢锭质量的晶片内存在的缺陷和裂纹。零边缘排除,甚至缺...
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- 产品介绍
布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术，具有最全面的晶体缺陷检查解决方案。布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪用于分析硅晶片和钢锭质量的晶片内存在的缺陷和裂纹。零边缘排除,甚至缺陷斜边和切口可以自动识别。由于x射线衍射的本质,与光学技术不同,晶片不需要蚀刻或抛光能够看到的缺陷。
早期的缺陷检测，一个主要的应用工具是由硅晶片制造商。这在过程的早期可以使用锭片前片抛光。这允许滑的早期检测和其他有害缺陷在锭,并决定在锭开始为好晶圆切片。布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪也用于碳化硅监控。碳化硅的生产过程的一个关键问题是不同的缺陷,可以成长为锭。布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪可以用来检测和分类这些缺陷为制造商所需的密钥类型:螺纹边缘(TED)螺纹螺丝(TSD)和底面(桶)的缺陷。该检测可以自动完成测量过程的一部分。
如果您需要布鲁克Bruker JV-QCTT 半导体计量仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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