布鲁克Bruker D8 ADVANCE X电子束多晶衍射仪
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简介：布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪是模块化设计的全功能衍射仪，可实现粉末，块体，薄膜等样品的测试分析，同时支持高低温条件下的原位分析。布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪采用创造性的达芬奇设计，...
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- 产品介绍
布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪是模块化设计的全功能衍射仪，可实现粉末，块体，薄膜等样品的测试分析，同时支持高低温条件下的原位分析。布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪通过革命性的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！
布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率，而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标：Theta/theta立式测角仪；2Theta角度范围：-110~168°；角度精度为0.0001度；Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管；探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器；仪器尺寸：1868x1300x1135mm；重量770kg；功率6.5kW。
布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪应用于：物相定性分析；结晶度及非晶相含量分析；结构精修及解析；物相定量分析；点阵参数精确测量；无标样定量分析；微观应变分析；晶粒尺寸分析
原位分析；残余应力；低角度介孔材料测量 织构及ODF分析；薄膜掠入射；薄膜反射率测量；小角散射。
如果您需要布鲁克Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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