布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 探测接触面研究仪
命名：一些测量仪器与用具
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简介：布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪解决方案通过TXRF（全反射X射线荧光分析）监测晶圆表面上的痕量金属污染物。布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪是一种快速、无损的表面敏感技术，无需使用液体...
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- 产品介绍
布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪解决方案通过TXRF（全反射X射线荧光分析）监测晶圆表面上的痕量金属污染物。布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪是一种快速、无损的表面敏感技术，无需使用液体。
布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪具备完整映射功能，可实现0毫米边缘排除测量。布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪包含多个用于最优化激发轻元素、中等元素和重元素的X射线源 。直观的用户界面(PTO)可确保工具实现故障保护性运作。全自动晶圆传送装置可接受300至450毫米的晶圆。此外，系统符合SEMI S2、S8和CE标准。
如果您需要布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
如果您需要布鲁克Bruker S8 FABLINE-T 监测表面分析仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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