布鲁克Bruker M1 MISTRAL X光谱分析线荧光光谱分析仪
分类：光谱分析仪
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简介：布鲁克Bruker M1 MISTRAL X射线荧光光谱仪是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层...
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- 产品介绍
布鲁克Bruker M1 MISTRAL X放射性成分荧光光谱图图仪仪是通过X放射性成分荧光技木的光谱图图仪仪，可对大件快递土样和电镀件土样做准确性的浅析一下。浅析一下的成分区域：氧原子序数21号（钛）超过的大多数成分。浅析一下的土样多种类型：繁多不一样的资料，如材料、合金属质、材料电镀件具有很多层电镀件土样。布鲁克Bruker M1 MISTRAL X放射性成分荧光光谱图图仪仪土样尺码最大化能够达到100×100×100mm，不需所有处里，一直摆到土样舞台上检则。光管为于土样顶端，预估进程中不触及土样，这样不错很简易 地浅析一下更复杂式样的土样，如精工细作的珠宝玉器或不一样体积尺寸的土样。
布鲁克Bruker M1 MISTRAL X电子束荧光光谱分析深入分析仪仪的微焦斑X电子束光管，尽管黑斑长宽高小到100µm也能够出现足以的电子束构造，黑斑大小不一考量于所适用的准直器。所分为视頻显微镜观察通过合理无误定位手机，能够校正任何的想测的地位。可选装计算公式机掌握的自己样板台，并自己聚焦点。无论是您是会根据基准来掌握样板的质理，还有校正完成错误样板的构成，XSpect概述APP都展示了适当的机器：这对条状样板和很多层膜样板，通过有标样化学发光法和无标样化学发光法（主要基本参数法）。打开看看鼠标键就能够自己通过多个校正。布鲁克Bruker M1 MISTRAL X电子束荧光光谱分析深入分析仪仪可配两者不一样的类型、的侦测器：大空间的空气中、正比计数器器，可能选择于质理掌握中的基准广泛应用；以及系统配置硅漂移侦测器，更具超快的测试时速和是很好的句子的能量场分辩率，检测出限能够可达到0.01%。一流的侦测器、数据电磁办理器及网站优化的代数格局，以保证了X电子束侦测的最多学习效率，以短时间地取得合理无误的概述报告。布鲁克Bruker M1 MISTRAL X电子束荧光光谱分析深入分析仪仪以及其APP的设置，让工作人群只需过程轻松技能培训即刻适用。仅同一个供电界面就能够运动机器设备，所分为空气中降温，不能不消耗脂肪品。坚硬的格局以保证最大的稳定量分析性，并完成免运营。
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