HIOKI 3541 电容测试方法仪
简称：LCR公测仪
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简介：HIOKI 3541是宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻测试仪。 HIOKI 3541电阻测试仪广范围测量,最低0.1（20.00m），最高110M。 快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)。 HIOKI 35...
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- 产品介绍
HIOKI 3541是宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻测试仪。
HIOKI 3541电阻测试仪广范围测量,最低0.1μΩ（20.00mΩ），最高110MΩ。
快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)。
HIOKI 3541电阻测试仪补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能。
运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计。
HIOKI 3541电阻测试仪具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可实现打印。
| 测量电流 | 20mΩ（最大显示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ）~100MΩ量程（最大显示110.000MΩ，分辨率1kΩ），11档切换 | ||||
| [Low Power ON时] 2Ω（最大显示2.00000Ω，分辨率10μΩ）~2kΩ量程（最大显示2.00000kΩ，分辨率10mΩ），4档切换 | |||||
| 测量精度 | (SLOW2） ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.（2k/20kΩ） | ||||
| [Low Power ON时]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.（2～2kΩ） | |||||
| 测量电流 | DC 1A～100nA, [Low Power ON时]: DC 10m～10μA | ||||
| 开路端子电压 | DC 5V（20/200m）, 2.6V（2～20k）, 13V（1M～100M）,[Low Power ON时]: 60mV | ||||
| 采样速度 | 快速 | 中速 | 低速 1 | 低速 2 | |
| 50Hz | 0.6ms ± 0.3ms | 21ms ± 1ms | 155ms ± 5ms | 455ms ± 10ms | |
| 60Hz | 0.6ms ± 0.3ms | 17ms ± 1ms | 149ms ± 5ms | 449ms ± 10ms | |
| 响应时间（纯电阻时）：上记采样时间+约1ms（根据设定内容、试料的不同,会有差异） | |||||
| 其它功能 | 温度测量（-10.0~99.9 °C ），温度补偿电阻值换算，卷线温度上升值换算，比较功能，最多可储存装填30种设定条件,分类（BIN）测量（10分类）, 统计运算, 补偿偏置电压，迟延 , 平均 | ||||
| 外部输入/输出 | 输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS | ||||
| 供应电源 | AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max. | ||||
| 体积及重量 | 215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg | ||||
| 附件 | 夹型测试线 9287× 1, 温度探头 9451× 1, 电源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用插入式连接器× 1 | ||||
