泰国日置 HIOKI IM3570电位差定性分析仪器
简介：HIOKI将在7月中旬发售阻抗分析仪IM357。1台IM3570即可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比，大幅缩短了测量时间，进一步提高了测量精度。 研发背景 IM3570将用于线圈、电容、压电元件等电子...
申请服务
- 产品介绍
阻抗分析仪是什么？
阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时，扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此，阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场，可以说是不可欠缺的测量仪器。
※阻抗：交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。
1.不同测量条件下，1台进行高速测量
测量电容等零部件时，有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。
2.检查速度提高了2倍(跟以往型号相比)
和HIOKI的以往型号(3532-50)相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。 需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。
3.测量的反复精度提高了1位(※1mΩ，100次测量时)
功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。
4.广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
5.15种测量参数
可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。
6.具备防止误操作的接触检查功能
装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。
7.广范围的测量电压/电流
外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。
8.8. 测试线可延长至4m
4端子的构造可降低测试线的影响，测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
IM3570的主要参数
LCR模式：单一条件下测量
分析仪模式：
根据测量频率、测量电平进行扫描
(测量点：1~801，扫描方法：一般扫描/分区扫描，显示：列表显示/图表显示)
连续测量模式：
连续测量保存的条件(最多32个)
普通模式：
V模式、CV模式：5mV~5Vrms(1MHz以下)，
10mV~1Vrms(1MHz~5MHz)，1mVrms步进
CC模式：10μA~50mArms(1MHz以下)
10μA~10mArms(1MHz~5MHz)，10μArms步进
低阻抗高精度模式：
V模式、CV模式：5mV~1Vrms(100kHz以下)，
1mVrms步进
CC模式：10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程)，
10μArms步进
普通模式：100Ω
低阻抗高精度模式：10Ω
普通模式：DC0V~2.50V(10mV步进)
低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V(10mV步进)
普通模式：测量信号电平
DC100mV~2.5V(10mV步进)
低阻抗高精度模式：测量信号电平
DC100mV~1.00V(10mV步进)
LCR模式：第1、第3项目的Hi/IN/Lo
分析模式：
区域判断(各点的Hi/IN/Lo)、
峰值判断(极大、极小的频率和绝对值的Hi/IN/Lo)
EXT I/O(handler)
RS-232C
GP-IB
USB(Hi-Speed/Full-Speed)
U盘
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
•电子零部件(线圈、电容、压电元件等)市场
•大学、研究开发部门
