泰克TLA6000全系列逻辑关系浅析仪投入市场新选件
全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布，推出完整的 DDR2 协议调试和验证解决方案，基于屡获奖项的 TLA6000 系列逻辑分析仪。TLA6000 系列新选件包含了嵌入式工程师——即使并非DDR2专家——用来验证和调试设计中存储子系统性能所需的各项工具。
DDR2 存储系统广泛用于当前大量嵌入式设计——通常用作微处理器总线或 FPGA 中的模块。DDR2 协议的复杂性以及大量命令/数据/地址信号，既难以直观地了解总线工作情况，也很难隔离潜在的问题。此外，设计人员必须保证信号定时和接口符合 JEDEC 标准。TLA6000 系列新增的 DDR2 选件以更为经济的价格提供了更加完整、易用的 DDR2 测试解决方案，满足新兴需求。
“这些选件可显著提高工程师验证和调试嵌入式设计中 DDR2 的工作效率，同时这些功能集成在9九游
的中端逻辑分析仪中奖有效帮助降低成本，”，泰克公司逻辑分析仪产品线总监 Dave Farrell 先生表示，“由于内置软件可将捕获的原始数据转换为有意义的 DDR2 总线事务视图，自动发现并报告与协议不相符的情况，因此哪怕用户不是 DDR2 专家，也同样可以取得专家级的调试结果。”
TLA6000 系列新选件含有用来查看地址、数据和控制信号的一系列工具，包括：
· 内存芯片夹具(Memory chip interposers)便于探测嵌入式 DDR 存储器，不必设计探测接入点。这些内存芯片夹具(Memory chip interposers)配合 TLA6000独特的iCapture 模拟复用器 (Analog Mux)，可为逻辑分析仪与示波器提供单一探测解决方案，节省时间并最小化设置的复杂性。
· 协议解码软件显示所有 DDR2 事务，并具有 DDR2 事件触发功能。
· 采样点分析软件自动完成 TLA6000 正确配置过程，对 DDR2 信号进行精确采样。
· 协议冲突软件发现并报告违背 JEDEC 定义的 DDR2 协议的情况。
