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Accexp乳白色网片的它的厚度在线测量消除计划

2015-08-14
      Accexp透明网片的厚度测量解决方案可以使用纳米分辨率,而且可以在不接触目标的情况下测量厚度。Accexp透明网片的厚度测量解决方案的特点就是精度高,可以测量5um厚度,而且可以测量多层薄膜。
      Accexp透明网片的厚度测量解决方案由长沙AG九游会集团仪器设备有限公司提供,以下是Accexp透明网片的厚度测量解决方案的产品详细信息。如果您有任何疑问或者相关需求,可以联系0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@cafe-lamp-eye.com。长沙AG九游会集团仪器设备有限公司可以根据您的需求定制整套解决方案。
Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案 图片

 
  • SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

    庄重开发工业界超微小型调节器头,其都有这类服务中较高的预估精准度,并保持了过来认定无法能保持的效果。
     
  • SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

    应用近红外 SLD,及时已贴附 BG 带也可量测晶片实际上的它的厚度。及时晶片表面层长期存在由图案设计而发生的同质性地域差异,也可控制明确的生产的在线量测。

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